机译:SRAM预充电电路中的电阻开路缺陷的分析和测试
机译:SRAM预充电电路中的电阻开路缺陷的分析和测试
机译:动态电源电流测试,用于CMOS SRAM中的开路缺陷
机译:通过减少预充电活动来最大程度地降低SRAM中的测试功率
机译:图算法中的参数化和简洁表示:叶子力,具有遗传性质的子图,以及偏见的活动最小化
机译:在零值下通过惩罚回归进行降维对分数测试功效的影响的注记
机译:1通过降低预充电活动,最大限度地降低sRam中的测试功率
机译:设计一种链接差动式皮瓣系统的试验,以尽量减少由动力引起的有效二尖瓣的减少